Конспект лекцій для студентів напряму підготовки 050102 «Комп’ютерна інженерія» денної та заочної форм навчання



Сторінка4/4
Дата конвертації09.04.2017
Розмір0.59 Mb.
1   2   3   4

Класифікація дефектів, знайдених при тестуванні

Існують різні підходи до класифікації дефектів, які вносяться в ПС і виявляються на різних стадіях її розробки. Найбільш повну класифікацію встановлює стандарт IEEE Std. 1044:1993. В ньому замість терміну дефект використовується термін аномалія для позначення будь-яких відхилень в ПC, її специфікаціях, документації, а також планах або процедурах, пов'язаних з розробкою або використанням ПC. В цьому розділі розглядаються питання класифікації дефектів, які виявляються при тестуванні.

Найбільш важливими аспектами класифікації дефекту є: симптом; серйозність; пріоритет усунення; стадія розробки і джерело; тип.

Симптом дефекту стосується його видимого прояву, спостережуваного тестером при виконанні тестів. Опис симптому необхідний для аналізу дефекту розробником і визначення істинної причини дефекту.

Рекомендована стандартом IEEE Std.1044:1993 класифікація симптомів:


Аварійне завершення програми

Не очікувана поведінка програми

"Зависання" програми

Проблема введення

Коректні дані не вводяться

Неправильні дані вводяться

Опис даних відсутній або неправильний

Параметри не повні або відсутні

Проблема виведення

Неправильний формат

Неправильні результати/дані

Результат виведення не повний або відсутній

Граматика/синтаксис

Незадовільна продуктивність

Відчуття загальної відмови продукту

Повідомлення про помилку системи

Інше


Для класифікації дефектів за серйозністю стандарт IEEE Std.1044:1993 рекомендує таку порядкову шкалу:


Критичний

Серйозний

Значний

Незначний



Не дефект

У кожному конкретному випадку «серйозність» дефекту залежить від типу системи і повинна визначатися в контексті наслідків дефекту для системи (або для користувача). Приклад віднесення дефекту до категорії серйозності подано в табл. 9.1. / (в ній кожному рівню серйозності призначено код).

Таблиця 9.1. Опис серйозності дефекту



Код

Серйозність

Опис

1

Критичний

Дефект призводить до відмови всієї системи, підсистеми, або компоненту. Подальше тестування або використання системи неможливе.

2

Серйозний

Дефект призводить до відмови компоненту ПС, втрати даних.

3

Значний

Дефект призводить до отримання некоректних, неповних або суперечливих результатів, або дефект стосується зручності використання системи.

4

Незначний

Дефект не призводить до відмови, не погіршує зручність використання системи і його можна легко обійти.

5

Не дефект

Помилки в тестах, збої апаратного або програмного середовища.

З дефектом зв'язується пріоритет усунення. Для класифікації дефектів можна використовувати подібну шкалу (табл. 9.2.).
Таблиця 9.2. Опис пріоритетів усунення дефекту

Код

Пріоритет

Опис

1

В першу чергу

Подальшу розробку або тестування виконувати до усунення дефекту неможливо

2

Звернути особливу увагу

Дефект потрібно усунути найшвидше, оскільки його наявність негативно впливає на розробку або тестування

3

У порядку черги

Дефект потрібно усунути в порядку планових дій по розробці. Його усунення можна відкласти до випуску нової версії

4

Відкласти

Усунення дефекту можна відкласти на невизначений термін. Його можна усунути в наступній версії або взагалі не усувати

5

Відхилити

Не дефект. Можливо випадковий збій або помилка тестувальника


Критерії завершення тестування

Найбільш поширений критерій завершення тестування – вичерпаний час, виділений на його проведення. Цей критерій не враховує виконаного об'єму тестування і ризику відмови ПС через дефекти, що залишилися. Більш строгі критерії ґрунтуються на кількісних вимірюваннях.

В підході, заснованому на метриках покриття, критерії формуються шляхом обчислення метрик функціонального і структурного покриття і відображають об'єм виконаного тестування. Структурні критерії застосовуються при автономному тестуванні і базуються на методах структурного тестування, а функціональні - застосовуються на всіх рівнях і базуються на методах функціонального тестування. Разом з цими критеріями, використовуються і прагматичні критерії, які базуються на кількості і серйозності дефектів, які виявлені, але не усунені. При такому підході до визначення критерію завершення - тестування можна припинити, якщо немає дефектів серйозності 1, 2, 3, тобто, залишилися тільки невеликі “косметичні” недоліки. Цей критерій завершення застосовується при функціональному і системному тестуванні (приймальних випробуваннях не критичних ПС).

Критерій завершення тестування, який базується на оцінках інтенсивності відмов, - є основним критерієм для систем реального часу та інших ПС, у яких надійність має велике значення. За цим критерієм тестування продовжується до тих пір, поки не будуть досягнуті встановлені у вимогах значення метрик надійності (інтенсивність відмов або середній час роботи без відмови).




Список рекомендованих джерел


  1. Тестування комп’ютерних засобів: методичні вказівки до лабораторних занять для студентів напряму 6.050102 «Комп’ютерна інженерія» усіх форм навчання / уклад. О.І.Міскевич, К.Я.Бортник – Луцьк: Луцький НТУ, 2014. – 44 с.

  2. Конспект лекцій з дисципліни «Тестування комп'ютерних засобів» для студентів спеціальностей КСМ денної та заочної форми навчання. –Упорядники: / Герасимчук О.О, К.Я. Бортник. - Луцьк: ЛНТУ, 2008. – 45с. формату А4

  3. Тестування комп’ютерних засобів. Методичні вказівки до лабораторних занять для студентів спеціальності КСМ денної та заочної форми навчання. / Бортник К.Я. – Луцьк: ЛНТУ, 2009. 40с.

  4. Локазюк В. М. Контроль і діагностування обчислювальних пристроїв та систем: Навч. посібник для вузів. – Хмельницький: ТУП, 2006. – 175 с.

  5. Цилькер Б.Я., Орлов С.А. Организация ЭВМ и систем: учебник для вузов. – СПб.: Питер., 2004. – 668 .с.: ил..     

  6. Гуржій А.М., Коряк С.Ф., Самсонов В.В., Скляров О.Я. Архітектура, принцип функціонування і керування ресурсами ІВМ РС: Навч. посібник. Харків: ТОВ “Компанія СМІТ”, 2003. – 512с.

  7. А. О. Мельник. Архітектура комп’ютера. Наукове видання. – Луцьк: Волинська обласна друкарня, 2008. – 470 с.

  8. Локазюк В. М., Поморова О. В., Домінов А. О. Інтелектуальне діагностування мікропроцесорних пристроїв та систем: Навч. Посібник для вузів. – К.: „Такі справи”, 2001. – 286 с.

  9. Методы технической диагностики: Метод. указания к выполнению практических работ. / Голубков В.А. - СПб.: 2006, 74 с.

  10. Техничекая диагностика элементов и узлов персональных компьютеров: Учебное пособие / В.И.Хаханов. - К.:ИСМО, 1997. - 308с.

  11. Тестирование обьектно-ориентованного програмного обеспечения. Практическое пособие: Пер.с англ.../Джон Макгрегор, Девид Сайкс. – К.: ООО «ТИД «ДС», 2002.-432 с.

  12. Блэк Р. Ключевые процессы тестирования. Планирование, подготовка, проведение, совершенствование.: Пер.с англ.   М.: Изд.: Лори, 2006. – 544 с.

  13. Лаврищева Е.М., Петрухин В.А. Методы и средства инженерии программного обеспечения: Учебник. – М.: МФТИ(ГУ), 2006. – 304 с.

  14. ДСТУ 2850-94. Програмні засоби ЕОМ. Показники і методи оцінювання якості.

  15. Тамре Л. Введение в тестирование программного обеспечения.: Пер. с англ. – М.: Издательский дом «Вильямс», 2003. - 368 с.

  16. Архитектура вычислительных систем. http://127.0.0.1:800/Default/ dozen.mephi.ru_3A8100/ student.

  17. Общий оценочный лист тестирования usability web-сайта http://software-testing.ru/lib/it-online/site-usability-checklist.htm

  18. Мельбурн Д., Джорм Д. Тестирование web-приложений "на проникновение" (часть 1) (перевод Дмитрия Леонова) /http://www.bugtraq.ru/library




НАВЧАЛЬНО-МЕТОДИЧНЕ ВИДАННЯ













Т 36

Тестування комп’ютерних засобів [Текст]: конспект лекцій для студентів напряму підготовки 6.050102 «Комп'ютерна інженерія» денної та заочної форм навчання/ уклад. О.І.Міскевич, К.Я.Бортник – Луцьк : Луцький НТУ, 2015. – 44 с.




























Комп’ютерний набір:

О.І.Міскеви

К.Я.Бортник















Редактор:

О.І.Міскевич, К.Я.Бортник

(представник РВВ Луцького НТУ, інший фахівець)


































Підп. до друку 2015 р.

Формат 60х84/16. Папір офс. Гарнітура Таймс.

Ум. друк. арк. ___. Обл.-вид. арк. 2,5.

Тираж ____ прим. Зам. 1.




Редакційно-видавничий відділ

Луцького національного технічного університету

43018 м. Луцьк, вул. Львівська, 75.

Друк – РВВ Луцького НТУ




1   2   3   4


База даних захищена авторським правом ©lecture.in.ua 2016
звернутися до адміністрації

    Головна сторінка